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VISÃO GERAL

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The XDS beamline is an experimental station dedicated to X-ray Diffraction and Spectroscopy in the hard x-rays (5 to 30 keV) energy range. It focuses on determination of atomic, electronic and magnetic structure of materials with applications to condensed matter physics, chemistry, geosciences, among others. Several sample environments are available at XDS: high pressure cells to subject samples up to 80 GPa, magnetic field of 6 T magnet for diffraction experiments, cryostat for temperatures as low as 1.8 K, furnaces for temperatures up to 1200 K.

The X-ray Diffraction and Spectroscopy (XDS) beamline uses the radiation emitted by the Superconducting Wiggler source and is employed for multipurpose experiments. Some of the diffraction experiments demand control of the horizontal divergence, only achievable with sagittal focusing in a double crystal monochromator. On the other hand, the use of flat crystals and focusing with a toroidal mirror was considered to be the best choice for XAS measurements. These apparently contradictory requirements from the diffraction and absorption community led us to introduce a flexible configuration for this beamline. According to this concept, the beamline operates with a collimating mirror with bender (with Si, Rh and Pt stripes), a double crystal monochromator (DCM) with two interchangeable sets of crystals [plane Si(111), sagittal Si(111) and plane Si(311)], and a focusing mirror with three stripes (toroidal Rh, plane Rh and toroidal Pt) and a bending mechanism to allow for focus adjustments.

CONTATO & EQUIPE


Coordenação: Narcizo Marques de Souza Neto
Telefone: +55 19 3512 1051
E-mail: narcizo.souza@lnls.br

 

Clique aqui  para mais informações sobre a equipe da Linha de Luz.

TÉCNICAS EXPERIMENTAIS

As técnicas e configurações experimentais a seguir estão disponíveis nesta linha de luz. Para saber mais sobre as limitações e requerimentos das técnicas, contate o coordenador da linha de luz antes de submeter sua proposta.

  • X-ray spectroscopy of elements at 4th row of periodic table;
  • X-ray diffraction under high pressure (HP-XRD);
  • X-ray spectroscopy under high pressure (HP-XAS);
  • Pair distribution function (PDF);
  • Diffraction Anomalous Fine Structure (DAFS);
  • Resonant/magnetic x-ray diffraction (XRMS);
  • Inelastic X-ray Scattering (RIXS / X-ray Raman);
  • Grazing incidence x-ray scattering (GI-XRD).

LAYOUT & ELEMENTOS ÓTICOS


 

 

ElementoTipoPosição[m]Descrição
SourceInsertion Device0.0Insertion Device W09A, 4T Superconducting Wiggler, 1.28 x 0.023 $ \rm m^2$
M1Cylindrical Vertical Collimating Mirror11.0Si, Rh and Pt coated stripes, $ \theta$=2.75 mrad
MonoDouble Crystal Monochromator13.5Cryo-cooled flat Si(111) and Si(311) pairs; Si(111) with sagital bending
M2Cylindrical and Toroidal Focusing Mirror16.0Rh and Pt coated, $ \theta$=2.75 mrad, bending mechanism for vertical focusing, toroidal stripes for horizontal focusing, flat Rh stripe for use with sagittal focusing or unfocus mode

PARÂMETROS

ParâmetroValorCondição
Energy range [keV]5-30Si(111) and Si(311)
Energy resolution [$ \Delta$E/E]$ 10^{-4}$Si(111)
Energy resolution [$ \Delta$E/E]$ 10^{-5}$Si(311)
Beam size at sample [$ \mu \rm m^{2}$, FWHM]1400 x 300at 10 keV
Beam divergence at sample [$ \rm mrad^{2}$, FWHM]2.5 x 0.4at 10 keV
Flux density at sample [ph/s/$ \rm mm^{2}$]$ 5 \times 10^{12}$at 10 keV

INSTRUMENTAÇÃO

InstrumentoTipoModeloEspecificaçõesFabricante
DetectorAreaPilatus 300KArea 83.8 × 106.5 $ \rm mm^{2}$. Pixel size: 172 x 172 $ \mu \rm m^{2}$, 1kHz frame rate.Dectris
DetectorFluorescenceSiLi 12 element-PGT
FurnaceCapillaryHTK 1200NMax Temp.: 1200ºC, Temp Rate: 50°C/minAnton Paar
Diffractometer6+2 circle-6 circle diffractometerHuber
Sample CellHigh pressure Diamond anvil cellMembrane and screw driven Can reach up to 80 GPaLNLS in-house development, Syntek, Princeton 
CryostatsJT CryostatMinimum temp.:1.2 KClosed loop cryostatA S Scientific
MagnetSC cryo-free6 T HTS-11Superconducting magnetHTS 110

CONTROLE E AQUISIÇÃO DE DADOS

All beamline controls are done through SPEC software.

REQUISIÇÃO DE TEMPO DE FEIXE

Chamados de submissão de propostas são abertos usualmente duas vezes ao ano, um para cada semestre. Todas as propostas de pesquisa acadêmica precisam ser submetidas eletronicamente através do portal SAU Online. Saiba mais sobre o processo de submissão de propostas aqui.

 

COMO CITAR ESTA LINHA DE LUZ

Usuários devem declarar a utilização das instalações do LNLS em qualquer artigo, tese ou outro material publicado que utilize dados obtidos na realização de sua proposta.

Texto de apoio para declaração/agradecimento:

This research used resources of the Brazilian Synchrotron Light Laboratory (LNLS), an open national facility operated by the Brazilian Centre for Research in Energy and Materials (CNPEM) for the Brazilian Ministry for Science, Technology, Innovations and Communications (MCTIC). The _ _ _ beamline staff is acknowledged for the assistance during the experiments.

Ou:

Esta pesquisa utilizou recursos do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS), uma instalação nacional aberta do Ministério da Ciência, Tecnologia, Inovações e Comunicações (MCTIC) operada pelo Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Agradecemos a equipe da Linha de Luz _ _ _ pela assistência durante os experimentos.

 


 Adicionalmente, em caso de publicação relacionada a esta instalação, favor citar o artigo abaixo.

F. A. Lima et al.,  XDS: a flexible beamline for X-ray diffraction and spectroscopy at the Brazilian synchrotron, J. Synchrotron Rad. (2016). 23, 1538–1549

The majority of the beamlines at the Brazilian Synchrotron Light Source Laboratory (LNLS) use radiation produced in the storage-ring bending magnets and are therefore currently limited in the flux that can be used in the harder part of the X-ray spectrum (above ∼10 keV). A 4 T superconducting multipolar wiggler (SCW) was recently installed at LNLS in order to improve the photon flux above 10 keV and fulfill the demands set by the materials science community. A new multi-purpose beamline was then installed at the LNLS using the SCW as a photon source. The XDS is a flexible beamline operating in the energy range between 5 and 30 keV, designed to perform experiments using absorption, diffraction and scattering techniques. Most of the work performed at the XDS beamline concentrates on X-ray absorption spectroscopy at energies above 18 keV and high-resolution diffraction experiments. More recently, new setups and photon-hungry experiments such as total X-ray scattering, X-ray diffraction under high pressures, resonant X-ray emission spectroscopy, among others, have started to become routine at XDS. Here, the XDS beamline characteristics, performance and a few new experimental possibilities are described.

PUBLICAÇÕES

Abaixo está disponível a lista de artigos científicos produzidos com dados obtidos nas instalações desta Linha de Luz e publicados em periódicos indexados pela base de dados Web of Science.

Atenção Usuários: Dada a importância dos resultados científicos anteriores para a processo geral de avaliação das propostas, recomenda-se que os Usuários verifiquem e atualizem suas publicações tanto no portal SAU Online quanto na base de dados da Biblioteca do CNPEM. As atualizações da base de dados da biblioteca devem ser feitas enviando a informação bibliográfica completa para a Biblioteca (biblioteca@cnpem.br). As publicações são incluídas após checagem pela equipe da biblioteca e pela coordenação das linhas de luz. 

 

MAIS PUBLICAÇÕES


 PGM   XDS 

 Jesus, J. R.; Garcia, F.; Duque, J. G. L.; Meneses, C. T.. Study of exchange bias in single-phase Dy0.2Nd0.8CrO3, Journal of Alloys and Compounds, v. 779, p. 577-581, 2019. DOI: 10.1016/j.jallcom.2018.10.335


 XDS 

 Paredes Mellone, O. A. ; Stutz, G. E.; Ceppi, S.A.; Larochette, P. A.; Huotari, S.; Gilmore, K.. Li 1s core exciton in LiH studied by x-ray Raman scattering spectroscopy, Journal of Physics-Condensed Matter, v. 31, n. 5, p. 05550, 2019. DOI: 10.1088/1361-648X/aaf24c


 XDS   XRD2 

 Marçal, L. A. B.; Richard, M. I.; Persichetti, L. ; Favre-Nicolin, V.; Renevier, H. ; Fanfoni, M. ; Sgarlata, A. ; Schülli, T. U.; Malachias, A.. Modified strain and elastic energy behavior of Ge islands formed on high-miscut Si(001) substrates, Applied Surface Science, v. 466, p. 801-807, 2019. DOI: 10.1016/j.apsusc.2018.10.094


 XDS 

 Mendonça-Ferreira, L.; Carneiro, F. B. ; Fontes, M. B. ; Baggio-Saitovich, E.; Veiga, L. S. I.; Mardegan, J. R. L.; Strempfer, J. ; Piva, M. M.; Pagliuso, P. G.; Reis, R. D.; Bittar, E. M.. Pressure effects on the structural and superconducting transitions in La3Co4Sn13, Journal of Alloys and Compounds, v. 773, p. 34-39, 2019. DOI: 10.1016/j.jallcom.2018.09.236


 XDS   XRD1 

 Barrios, A. M.; Teles, C. A.; Souza, P. M.; Rabelo Neto, R. C.; Jacobs, G.; Davis, B. H.; Borges, L. E. P.; Noronha, F. B.. Hydrodeoxygenation of phenol over niobia supported Pd catalyst, Catalysis Today, v. 302, p. 115-124, 2018. DOI: 10.1016/j.cattod.2017.03.034


 XDS 

 Nobrega, M. M.; Teixeira-Neto, E.; Cairns, A. B.; Temperini, M. L. A.; Bini, R.. One-dimensional diamondoid polyaniline-like nanothreads from compressed crystal aniline, Chemical Science, v. 9, n. 1, p. 254-260, 2018. DOI: 10.1039/c7sc03445h


MAIS PUBLICAÇÕES

FOTOS


XDS: Visão Geral / Overview



Português:
Visão geral da cabana experimental da Linha de Luz XDS mostrando algumas das configurações experimentais.

English:
Overview of the XDS experimental hutch showing some of the experimental setups.

XDS: Célula de Bigorna de Diamantes / Diamond Anvil Cell



Português:
Célula de bigorna de diamantes sendo iluminada por sistema de medida de luminescência de rubi para experimentos de difração de raios X em condições de altas pressões.

English:
Diamond Anvil Cell illuminated by ruby luminescence measurement system for X-ray diffraction experiments at high pressure conditions .